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美國Structure Probe, Inc.,?
Structure Probe,Inc成立于1970年5月，創始人Charles A. Garber博士，同時他也是公司的董事長兼首席執行官。時至今日公司的目標仍然是創立電子顯微鏡和表面分析領域高質量獨立的測試和分析實驗室 。

從僅僅擁有一臺掃描電子顯微鏡和3個員工起步，Garber博士領導公司成為擁有4個實驗基地，員工人數超過30人和價值超過數萬美元的電子光學設備公司。截至到1985年 ，Structure Probe, Inc已經變成美國東海岸首屈一指的實驗室，同時作為專業解決電子顯微鏡領域的相關問題的公司，該公司在工業，政府機構甚至學術界都擁有廣泛的客戶。

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1985年以后的時期，市場地位發生了根本變化，例如研發實驗室的發展，從新澤西，康奈提格，紐約一直到美國南部，同時美國的基礎技術商業也從那些大量從事技術研究的國外公司學到了一些東西。另外，由于便宜的長途通訊和傳真的增長，還有便宜的24小時快遞服務公司 ，例如UPS，DHL和FedEx的發展，客戶對本地實驗室的需求和依賴變得越來越小。

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因此，在1997年，Structure Probe Inc公司將其運作的所有的分析和咨詢服務部門統一到一個地方，總部位于賓西法尼亞的West Chester。這次統一調整是很明智的 ，因為公司并沒有因為調整帶來的遠距離而失去客戶。大多數的樣本連夜就可以由快遞公司送到目的地，和我們過去擁有多個實驗基地沒什么區別。

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我們了解我們的技術裝備和設施，當一種設備由于多年的使用顯得有些舊的時候，我們就會對其進行升級，升級后的設備幾乎可以和新設備相媲美。我們的JEOL Model JSM-840 掃描電子顯微鏡技術可以提供很高的分辨率，即使非傳導材料在低加速電壓的情況下我們也能得到10X到100,000X的圖像。JEOL分析掃描透射電子顯微鏡（STEM）和透射電子顯微鏡（TEM）可以在現代Noran儀器上提供高質量的EDS數據，并且可以在10nm的精微尺度上完成選區電子衍射。同時，在室內，我們還有一些杰出的設備，例如光學顯微鏡、超薄切片機（室溫或者低溫)、真空沉淀、離子研磨和諸如圖像分析和圖像處理的一些其他技術。全世界能夠提供如此全面技術服務的獨立實驗室非常少。

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The Structure Probe, Inc被人們贊譽為材料研究的專家主要是因為高超的技術以及面向技術的全體員工。多年以來，為了滿足我們分布在工業、政府和學術界客戶的要求，我們有來自化妝品、聚合體和聚合體涂膜、化學、陶瓷學、冶金、微電子、生物和物理等各個領域的專家。近些年來，我們又增加了一些生物和生命科學領域的技術。該技術的引入進一步引起了我們在制藥工業上需要快速轉變大量樣本的客戶的發展。實驗室分析服務 由Andrew W. Blackwood博士和Charles A. Garber博士領導。

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在包含“小企業技術革新”在內的技術型小公司方面，Garber博士在美國國會委員會之前已經多次驗證。最近的一次是在1996年7月18日的美國眾議院小企業委員會上，證詞的主題為非贏利組織和小企業之間的不公平競爭。

Garber博士還被選為白宮小商業協商會代表（1980-1986），并且在1995年當選為該協商會的指定輪值主席（但是當時提高為全代表地位）。

1990年4月, Garber博士當選為赴匈牙利布達佩斯參加“三方會談”的十名美國代表之一, 目的是與匈牙利和前蘇聯代表團討論三國間技術合作的發展優先權。會議討論的目的是為最終的美國總統George Bush和當時蘇聯總統Mikhail Gorbachov的首腦會議提供建議。Garber博士的陳述涉及了開始面向高技術的小企業領域。

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