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深圳市創鑫儀器有限公司：CX－HP821 LED光電性能快速測試系統 LED光電性能快速測試系統專用于測量 LED 的配光曲線（ LED 光強分布）、光束角、法向光強、正向電壓、反向電流、反向擊穿電壓等光電參數，符合 CIE pub.No.127 條件 A 或 B 。 正是在滿足 CIE 標準的基礎上研制的 LED 光強空間分布測試系統，符合 CIE pub.No.127 條件 A 和條件 B 。本系統實現了 LED 的光、電性能的高精度測試，為 LED 生產廠商提供充分的 LED 光、電參數，使 LED 的研制和生產更加有效、可靠。

CX－HP821 LED光電性能快速測試系統

產品描述

      LED光電性能快速測試系統專用于測量 LED 的配光曲線（ LED 光強分布）、光束角、法向光強、正向電壓、反向電流、反向擊穿電壓等光電參數，符合 CIE pub.No.127 條件 A 或 B 。 正是在滿足 CIE 標準的基礎上研制的 LED 光強空間分布測試系統，符合 CIE pub.No.127 條件 A 和條件 B 。本系統實現了 LED 的光、電性能的高精度測試，為 LED 生產廠商提供充分的 LED 光、電參數，使 LED 的研制和生產更加有效、可靠。

測試 LED 、大功率 LED 、食人魚、貼片等發光體的光電性能；
內置 2000mA 數控恒流源，三***分檔測量功能；
測量 LED 的電參數：反向漏電流，下身壓降等；
測量 LED 的光參數，***維、二維空間光強角分布、光強、動態光強、零度光強、偏差角、擴散角、光通量等各種性能參數；
測量設定和控制完全電腦操作，軟件自帶數據庫，；測量設定軟件控制，自動生成Ecel各PDF文檔，自動分析電流、電壓、光通量、光強的相互曲線關系
軟件自動分析 LED 電流與電壓、光通量

LED光電性能快速測試系統性能參數：

正向電流 (I F ) ： 0.1mA ～ 800.0m A ；
 正向電壓 (V F ) ： 0.01V ～ 20.00 V
反向電流 (I R ) ： 0.01 μ A~200 μ A ；
 反向電壓 (V R ) ： 0.1 V～ 20.00 V
反向擊穿電壓：0.1 V～ 20.00 V
預熱時間：0-9999ms
光強測量范圍：0mcd-9.999cd
符合CIE-127-1997測試條件A。
配合積分球可實現光通量測量