手動(dòng)探針臺(tái) 四寸探針臺(tái) 測(cè)試探針臺(tái) 實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:19
品 牌：型 號(hào)：pw-400
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光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對(duì)漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿，均會(huì)造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內(nèi)部形成流動(dòng)電流，漏電位置的電子會(huì)發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉(zhuǎn)化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測(cè)器，通過(guò)紅外顯微鏡探測(cè)到這些釋放出來(lái)的紅外線，從而***的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性價(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng)
設(shè)備交流微信13488683602
光發(fā)射顯微鏡是器件分析過(guò)程中針對(duì)漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造過(guò)程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過(guò)外界靜電擊穿，均會(huì)造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內(nèi)部形成流動(dòng)電流，漏電位置的電子會(huì)發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉(zhuǎn)化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測(cè)器，通過(guò)紅外顯微鏡探測(cè)到這些釋放出來(lái)的紅外線，從而***的定位到器件的漏電點(diǎn)。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性價(jià)比,并憑借良好的售后服務(wù),迅速占領(lǐng)市場(chǎng)
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