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Dimension® Edge原子力顯微鏡
擁有的AFM功能，的性價比，滿足任何研究者的使用要求

Dimension® Edge 原子力顯微鏡采用*新技術， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產品中處于水平。Dimension系列中性價比的閉環掃描原子力顯微鏡，的傳感器設計顯著地降低噪音和 漂移，既獲得了閉環的精度，又具有開環的噪音水平，在大樣品臺AFM上實現 了小樣品臺AFM的成像性能。
基于的Dimension Icon®平臺, Dimension Edge系統的整體設計使其具有低漂移、低噪音的特點, 大大提高了數據獲取速度和可靠性，使用這臺全新的儀器，幾分鐘時間即可獲得高質量、可發表的專業數據。這些檢測性能的提高，并沒有影響儀器的價格，絕對低 于您對如此高性能原子力顯微鏡的支出預算。此外，視覺反饋集成化和預配置可選功能輔助用戶獲得更高質量的測量結果。整套儀器充滿人性化的設計，適用于各個 研究階段和科研水平的用戶。

聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，細胞表面形態觀察，生物大分子的結構及性質，數據存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研 究，食品、化學品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質、能源、環境 等領域

性價比的閉環Dimension系列AFM
獨有的傳感器設計既獲得了閉環的測量精度，又具有開環的低噪音水平顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺AFM上實現了小樣品臺AFM的成像性能
顯微鏡和電路的設計既保證了高成像性能，并且提供***個合適的儀器價格
快速，精確，高分辨的測量結果
直觀、優化的工作流程，確保短時間內即根據實驗情況優化設置
5百萬像素的高分辨率相機和馬達驅動可編程平臺可提供快速樣品導航和高效的多點測量
從大范圍掃描到分辨檢測的無縫過渡可在短時間內獲得準確結果
適用于任何實驗樣品和研究目的的解決方案
開放式平臺設計可適應各種實驗和樣品的需求
儀器設計和軟件開發使用Bruker*全面的AFM技術，滿足*新使用需求
內置的信號路由模塊幫助研究者可以按照不同的研究方向制定相應的實驗方案
擁有的納米***測量能力，適用范圍廣泛
模塊化設計不增加儀器成本的前提下，大大提高儀器性能
凝聚了10年AFM專業設置精華的第8代數據采集處理軟件，配備特定實驗模式選項

完整平臺控制既可直觀導航，又可進行強大的編程控制