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商品編號：70861

JCM-6000PLUS桌上型掃描電鏡

價格：詢價

產地：更新時間：2021-01-18 15:07

品牌：型號：JCM-6000PLUS

狀態：正常點擊量：1156

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JCM-6000PLUS桌上型掃描電鏡

顯微鏡＋影像觀察＋成份分析＋尺規量測

高真空模式二次電子像(SEI)擁有更好的圖像分辨率與景深。

高真空二次電圖像能達到更高的分辨率與景深，能達到更大的放大倍率，觀察起伏度更大得樣品。透過二次電子圖(SEI)像與背散電子圖(BSI)像的比較，更能清楚地了解樣品表面結構細節。高真空狀態下也能切換到背散電子圖像，觀察樣品的成分像。

低真空模式背散電子圖像(BSI)，無鍍金直接觀察含水份樣品。

JCM-6000PLUS標配低真空模式，在低真空狀態下，樣品倉中少量的氣體可以中和樣品表面的電荷，降低樣品放電撞，直接觀察未鍍金的不導電樣品。低真空模式也能有效觀察部分含水氣或油氣樣品。

手機***般的觸控式操作

➥ A>觸控式操作區域

➥ B>自動對焦丶亮度丶對比

➥ C>手動微調設定

➥ D>尋找影像

➥ E>*小放大倍率

➥ F>預設放大倍率

編輯尋找影像如此簡單

操作者可用影像尋找視窗尋找與列印圖像。也可以儲存任何影像拍照時的設定條件(包括加速電壓丶加速電流丶束流大小等等)。

選擇圖像後按下輸出影像即可在影像尋找視窗中預覽輸出。也可以***次選擇多個圖像，系統自動分頁，每個頁面有三個圖像。

雙視窗觀察模式丶方便不同影像直接進行比對

JCM-6000PLUS可同時顯示即時影像與回看影像。如上圖視窗，右邊是低放大倍率的儲存影像，左邊是高放大倍率的即時影像。操作人員可以直觀的比較及時影像與儲存影像之差異。

JCM-6000PLUS內建點對點量測功能

JCM-6000PLUS NeoScope內建量測功能，可量測兩點之間的距離丶圖像傾斜角度。量測結果可直接顯示在圖像上，也能夠儲存成CSV檔案。

EDS支援點丶線掃丶面(MAPPING)成份分析，功能強大操作簡單。

按下分析鍵即可打開EDS視窗。EDS支援定性/定量分析，從單點元素分析丶線元素分析丶面元素分析(元素分布圖)。JCM-6000Plus可搭載JEOL獨有的固態半導體EDS，能在影觀察的任***時刻提供即時元素分析。x穹治鰉c影像位置，按下分EDS析I，幼骷純蛇M行EDS成份分析、元素定性/定量分析。

多點成份分析

當您在圖像上選擇多個點的成份分析，系統會依序自動分析選取點的元素成分，顯示分析圖譜。您可在完成分析後比較分析圖譜。

面掃MAPPING全影像成份分析

使用MAP鍵即可開啟面掃(Mapping)功能，面掃功能可以清楚了解分析區域內的元素二維分布狀況。并俱有下列優勢：

1.創建各個元素分布的濃度二維彩色空間分布圖像，圖像中顏色代表該元素的濃度。

2.隨時新增任何元素的濃度分布二維圖。

3.選擇圖像中部份區域來觀察EDS圖譜，了解該區域全成分分析結果與各個元素所占百分比。

4.重疊各元素分布的二維圖譜，從而了解個元素分布的所在位置與相互關系。

分析助理程序，引導您***步***步完成MAPPING分析。

分析助理程序可以引導操作人員依序完成分析，包括線成份分析丶面成分份析(成分圖)。當您在分析助理程序中選擇***種分析模式，系統會顯示所需要的分析步驟，視窗中顯示的分析按進，會逐步引導操作人員完成分析。

1.選擇MAP

2.選擇分析分析圖像