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商品編號：41689

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產地：更新時間：2021-01-15 17:58

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ST2000薄膜厚度測量儀特點

1）因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2）可獲得厚度和 n,k 數據。

3）測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4）可測量3層以內的多層膜。

5）根據用途可自由選擇手動型或自動型。

6）產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品

7）可測量 PDP 上的膜厚度（Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用）

ST2000薄膜厚度測量儀產品規格/型號

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

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