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FT110系列X射線熒光鍍層厚度測量儀
價 格:詢價
產(chǎn) 地:更新時間:2020-12-15 09:41
品 牌:日立型 號:FT110系列
狀 態(tài):正常點擊量:1116
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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品介紹
FT110系列X射線熒光鍍層厚度測量儀
1.即放即測!
2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量!
3.可無標(biāo)樣測量!
4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置!
1. 通過自動定位功能提高操作性
測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
2. 微區(qū)膜厚測量精度提高
通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達5層的多鍍層測量
使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。
4. 廣域觀察系統(tǒng)(選配)
可從***大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。
5. 對應(yīng)大型印刷線路板(選配)
可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。