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整機(jī)外觀和硬件都進(jìn)行重新設(shè)計,使定位更加準(zhǔn)確,在探測器上加入了***新的SDD檢測器,和***新的Poly capilary毛細(xì)管聚焦,比以往的強(qiáng)度提高數(shù)十倍,采用了新的激光聚焦彌補(bǔ)了以往光學(xué)聚焦對表面光滑樣品聚焦慢的問題,以及增大了樣品倉的使用空間.

技術(shù)參數(shù)

1.微聚焦X光管***大功率50kV,50W, 1.0mA
2.試樣上X光聚焦點(diǎn)直徑300um、100um、30um、20um及連續(xù)可變 
3.自動發(fā)射束濾波系統(tǒng)（包括全開、關(guān)閉和6個濾片，共8個位置）
4.10x及100x(300x)彩色CCD攝像頭
5.樣品室尺寸標(biāo)準(zhǔn)型:直徑360mm,高310mm（大樣品室型為700x700x700mm）
6.自動樣品臺行程100x100x100mm(大樣品室型為300x300x100mm）
7. 標(biāo)準(zhǔn)精度計算機(jī)控制的XYZ樣品臺
8.樣品臺載重量: 5Kg,10Kg(大樣品室)
9.可以在真空下或大氣壓下進(jìn)行檢測
10.可以進(jìn)行單點(diǎn)或給定多點(diǎn)的自動分析
11.可以進(jìn)行單視域或多視域組合的元素分布分析（面掃描與線掃描）
12.可以進(jìn)行超越單視域的元素分布分析（在組合視域中選擇單幅元素分布分析范圍）
選購件：
Mo靶的X-光管（50kV，50W）
 替代300 μm單***毛細(xì)管的100 μm單***毛細(xì)管
與單***毛細(xì)管光學(xué)相關(guān)聯(lián)的自動準(zhǔn)直器（1 mm和2 mm）；由軟件控制選擇。
 Apollo 40 mm2 硅漂移檢測器
 軟件：譜分布圖，圖像處理軟件，線掃描，涂鍍層分析，譜匹配，合金分析以及用于數(shù)據(jù)處理的離線式譜儀軟件。

主要特點(diǎn)

1.樣品范圍寬:液體,磁性,絕緣體,少量粉末等。
2.樣品尺寸大：塊狀樣品可達(dá)270x270x100mm（大樣品室型則更大）。
3.焦點(diǎn)小，可進(jìn)行點(diǎn)、線、面的分布分析。
4.能量利用率高，X光管功率小，維護(hù)簡便。
5.無損檢測，使用方便，自動化程度高。
6.工作距離長。便于進(jìn)行非平坦樣品的分析。
7.可應(yīng)用于材料研究、生物醫(yī)學(xué)、司法鑒定、文物保護(hù)與鑒定、環(huán)境保護(hù)等多領(lǐng)域。
8.豐富的軟件不僅滿足定性、定量和元素分布分析，還可以進(jìn)行涂鍍層厚度、合金分析、檢索與分類分析以及RoHS、WEEE的檢測等。

儀器介紹

新***代Orbis聚焦型掃描X-射線熒光能譜儀也稱熒光探針，采用聚焦X射線照射，光路系統(tǒng)采用正置式，可在大氣壓力或低真空環(huán)境下檢測樣品。該儀器可進(jìn)行視頻圖象采集和圖象拼接，微區(qū)及整體成分的定性定量分析，以及線、面元素的分布分析，檢測極限為ppm***。