現在位置：首頁>通用分析儀器>顯微鏡>
掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
RHK 掃描探針顯微鏡
價 格：詢價
產 地：美國更新時間：2020-10-21 14:41
品 牌：RHK型 號：
狀 態：正常點擊量：2502
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
美***RHK Technology 成立于1981 年。作為SPM 工業中的領軍儀器制造商，RHK-Technology 始終保持著鮮明的特色：創新性、可靠性、產品設計的開放性與***的客戶支持。憑借著其優異的系統設計、精良的制造工藝、再加上與世界***科學***的緊密合作，二十多年來RHK Technology 源源不斷地向全世界科學***們輸送著先進的、高精度的科學分析儀器。
變溫QuadraProbe UHV 4-探針SPM系統是RHK公司生產的多探針UHV SPM系統中的***種，該系統中含有多個真空腔，可分別用于樣品的存放、制備和物性分析；配備了STM、SAM和MBE以及其他的儀器；每個探針可獨立操作從而達到原子分辨；工作溫度<10 K (用LHe冷卻)；SEM分辨率<10 nm。
- 四個STM探針均可達到原子分辨
- 樣品物性的變溫測量<10 k="">1000 K
- 使用Bath型的低溫保持器，LHe的消耗達到***小化
- 四個探針均可獨立操作
- 可用戶編程的探針控制功能
- STM均可升***到AFM功能
產品參數
樣品溫度范圍：10 K－1500 K；
最大掃描范圍：8μm；
X、Y、Z三維粗定位：±1.5mm/step；
樣品定位：±1.5mm；
STM分辨率: 四個探針均可實現HOPG的原子分辨
SEM分辨率:<10nm
探針材料：W, or W coated with Pt, Au, or other metals
滬公網安備31011502016460號
